23 آگوست 2024 -توسط انتشارات آموزش عالی-تشخیص تراهرتز: یک رویکرد جدید برای نظارت بر زمان واقعی پیری پروسکایت اعتبار: Jinzhuo Xu
پروسکایت های هیبریدی پتانسیل زیادی برای استفاده در دستگاه های الکترونیکی پیشرفته مانند سلول های خورشیدی و LED دارند. با این حال، یکی از مسائل مهمی که آنها را عقب نگه می‌دارد این است که آن‌قدر که برای استفاده تجاری گسترده لازم است دوام نمی‌آورند. با افزایش سن این مواد، عملکرد آنها کاهش می یابد، که هم برای محققان و هم برای شرکت ها مشکل بزرگی است.
برای مقابله با این مسئله، نه تنها بهبود پایداری این پروسکایت‌ها، بلکه توسعه روش‌هایی برای تشخیص چگونگی پیری آنها در زمان واقعی نیز مهم است. با درک چگونگی تخریب این مواد در طول زمان، می‌توانیم آنها را بادوام‌تر و کارآمدتر کنیم.
در یک مطالعه، محققان به رهبری پروفسور Yiwen Sun در دانشگاه شنژن از طیف‌سنجی دامنه زمانی تراهرتز برای مشاهده روند پیری پروسکایت‌ها استفاده کردند. این تکنیک بر اساس جذب رزونانسی امواج تراهرتز توسط فونون های موجود در پروسکایت است.
کار با عنوان “تشخیص بیدرنگ وضعیت پیری لایه های نازک متیل آمونیوم سرب یدید پروسکایت با استفاده از طیف سنجی دامنه زمانی تراهرتز” در 29 جولای 2024 در Frontiers of Optoelectronics منتشر شد.
با افزایش سن پروسکایت ها، شدت حالت های ارتعاش فونون مرتبط با پیوندهای سرب کاهش می یابد و منجر به تغییر در پیک جذب امواج تراهرتز در فرکانس های خاص می شود.بنابراین، آنها استفاده از شدت این پیک های جذب تراهرتز را به عنوان شاخصی برای اندازه گیری درجه پیری پروسکایت ها پیشنهاد می کنند. این یافته‌ها مهم هستند زیرا روشی عملی برای ردیابی پیری پروسکایت‌ها در زمان واقعی ارائه می‌دهند.
این پیشرفت می‌تواند کمک کند تا دستگاه‌های مبتنی بر پروسکایت سریع‌تر وارد بازار شوند و آنها را برای استفاده روزمره قابل اعتمادتر و کارآمدتر کند.
